GaN RF Device Characterization & Reliability Research (Italia)

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05 ott
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Italian Ministry of Education, University and Research
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Italia

05 ott

Italian Ministry of Education, University and Research

Italia

Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione
Si assicuri di inviare la sua candidatura con tutte le informazioni richieste, come indicato nella panoramica del lavoro riportata di seguito.
- Università degli studi di Padova seeks a researcher to characterize GaN devices and develop related experimental setups.
Responsibilities include studying degradation processes in GaN devices and contributing to advanced semiconductor research within a university setting.

The appointment is part of a research initiative with eligibility for xjncmbx fellows under specified residence rules, offering an opportunity to work on cutting-edge GaN technology in a

#J-18808-Ljbffr

📌 GaN RF Device Characterization & Reliability Research (Italia)
🏢 Italian Ministry of Education, University and Research
📍 Italia

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